簡(jiǎn)要描述:日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z? 帶目鏡觀(guān)察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹(shù)脂等。? 多種顯微鏡鏡體通常用作適用于專(zhuān)業(yè)器械 的 OEM(原廠(chǎng)委制) 產(chǎn) 品, 如 那 些 利 用YAG(近紅外、可見(jiàn)、近紫外或紫外) 激光 *對半導體晶片進(jìn)行檢測和修補的設備。* 不保證激光系統產(chǎn)品的性能和安全性。
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | MITUTOYO/三豐 | 價(jià)格區間 | 1萬(wàn)-5萬(wàn) |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z
日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z
• 帶目鏡觀(guān)察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹(shù)脂等。
• 多種顯微鏡鏡體通常用作適用于專(zhuān)業(yè)器械 的 OEM(原廠(chǎng)委制) 產(chǎn) 品, 如 那 些 利 用YAG(近紅外、可見(jiàn)、近紫外或紫外) 激光 *對半導體晶片進(jìn)行檢測和修補的設備。* 不保證激光系統產(chǎn)品的性能和安全性。
• 應用 :切割、修整、校正、給半導體電路做標記 / 薄膜 (絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復 (校正錯誤)。還可用作光學(xué)觀(guān)察剖面圖以便探針?lè )治霭雽w故障。
• 可用于紅外光學(xué)系統 *。應用 :晶體硅的內部觀(guān)察 ;紅外光譜特征分析。* 需要紅外光源和紅外攝像機。
• 支持 BF (亮視場(chǎng))、DF (暗視場(chǎng))、偏振光及微分干涉對比 (DIC) 的型號 (產(chǎn)品) 可用。
• 帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學(xué)系統上的標準配件。
• 內傾轉塔和超長(cháng)工作距離的物鏡確保了顯微鏡下的高可操作性。
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